Zrobiłem eksperyment dot. tych pomiarów. Chodzi o ESP i ESP+AF. Ten pierwszy to po prostu pomiar matrycowy. Ten drugi to jego modyfikacja - to jest pomiar matrycowy ale aparat bierze też pod szczególną uwagę ilość światła na aktywnym punkcie AF i w razie potrzeby - prześwietlenia bądź niedoświetlenia właśnie tego puntu wprowadzona zostaje korekcja aby tego w jakimś stopniu uniknąć. W konsekwencji fotografując sceny typowe, o niedużej rozpiętości tonalnej oba pomiary wskażą generalnie na takie same parametry naświetlania. Natomiast jeśli w aktywnym punkcie AF będzie np. coś bardzo jasnego w przypadku pomiaru ESP+AF zostaje wprowadzona dodatkowa korekcja - tak, żeby tego punktu możliwie nie prześwietlić, nawet kosztem niedoświetlenia reszty sceny. Zróbcie eksperyment i sfotografujcie np. świecącą żarówkę znajdującą się w aktywnym punkcie AF wykorzystując oba pomiary - parametry naświetlania będą inne dla poszczególnych pomiarów. Reasumując - pomiar ESP+AF jest jak gdyby kompromisem pomiędzy zwykłym pomiarem matrycowym a pomiarem punktowym realizowanym na aktywny punkt AF...
Mam nadz, że wyciągnąłem słuszne wnioski i wyraziłem się jasno...